一、運(yùn)行控制系統(tǒng)

1、控制器: 采用進(jìn)口LED數(shù)顯（P、I、D S、S、R.）微電腦集成控制器
2、精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
3、制冷系統(tǒng): 進(jìn)口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組，原裝法國“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
4、循環(huán)系統(tǒng): 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī)，多葉式離心風(fēng)輪
5、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間: 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S
6、溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，即冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)）溫度沖擊方法: 垂直兩箱法/垂直三箱法 （兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱）

二、半導(dǎo)體冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)主要技術(shù)指標(biāo)

1．內(nèi)箱尺寸：寬500mm*高400mm*深400 mm
2. 機(jī)器重量: 約1000KG
3．預(yù)熱zui高溫度范圍：+60℃～200℃；
4．儲(chǔ)溫箱升溫時(shí)間約：+60℃～200℃≤30min；
5. 預(yù)冷zui低溫度范圍：-10℃～ -75℃；
6．儲(chǔ)溫箱降溫時(shí)間約：+20℃～-75℃≤40min；（注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）
7．試驗(yàn)方式：氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)；
8．冷熱沖擊可選溫度范圍：（高：+65℃～+150℃）/ （低A：-40℃～-10℃；低B：-55℃～-10℃；低C：-65℃～-10℃）
9．溫度波動(dòng)度：±0.5℃
10．溫度偏差：±2.0℃
11．溫度恢復(fù)時(shí)間：3～5min

三、主要用途

半導(dǎo)體冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，對電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測試或試驗(yàn)，大概詳情如下：
1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價(jià)電子產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；
2、生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；
3、對電子產(chǎn)品的定型進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；
4、暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；
5、為改進(jìn)電子產(chǎn)品的可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。