高保真度信號捕獲

超低時基抖動

DSA8300 TEK示波器在同時采集的多 8 條通道上，典型值為 425 fs

使用 82A04B 相位參考模塊時，在多 6 個通道上典型值 <100 fs

的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器

電接口分辨率：<20 μV LSB（1 V 全量程）

光接口分辨率取決于光接口模塊的動態(tài)范圍 — 從 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 μW

靈活的配置

通過當(dāng)前取樣模塊系列，DSA8300 支持同時采集多 8 個信號

多種光接口、電接口和附件模塊，滿足您的特定測試要求

光接口模塊

全面集成光接口模塊，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標(biāo)準(zhǔn)光接口數(shù)據(jù)速率

經(jīng)過認(rèn)證的光接口參考接收機(jī)，支持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定必須進(jìn)行的*性測試的要求

>80 GHz 的光接口帶寬

光接口取樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動態(tài)范圍，可以準(zhǔn)確地測試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)

經(jīng)過全面校準(zhǔn)的時鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗

經(jīng)過校準(zhǔn)的消光比測量，在采用這一出廠校準(zhǔn)選項(xiàng)模塊時，系統(tǒng)間消光比測量可靠性 <0.5 dB

電接口模塊

電接口帶寬 >70 GHz

超低噪聲電接口取樣器（20 Ghz 時為 280 μV，60 Ghz 時為 450 μV，典型值）

DSA8300 TEK示波器可以選擇帶寬*1允許用戶用取樣器帶寬和噪聲換取優(yōu)的數(shù)據(jù)采集性能

遠(yuǎn)程取樣器*2或緊湊的取樣擴(kuò)展模塊電纜，取樣器可以放在被測器件附近，使信號劣化達(dá)到小

世界上性能高的集成 TDR（10 ps 典型階躍上升時間），高效檢定阻抗不連續(xù)點(diǎn)，高動態(tài)范圍，執(zhí)行高達(dá) 50 Ghz 的 S 參數(shù)測量

分析

標(biāo)準(zhǔn)分析功能

為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能

80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試。新模板可以導(dǎo)入到 DSA8300 中，支持新出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)。此外，用戶可以為自動模板測試定義自己的模板

垂直直方圖和水平直方圖，對波形進(jìn)行統(tǒng)計分析

垂直光標(biāo)、水平光標(biāo)和波形光標(biāo)(帶測量數(shù)據(jù))

通過 80SJNB 基本和高級應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析

通過 IConnect® 應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供高級 TDR 分析、S 參數(shù)測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能

高測試吞吐量

每條通道高達(dá) 300 kS/s 的取樣采集速率

高效編程接口（IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入）實(shí)現(xiàn)高測試吞吐量

*1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。

*2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

應(yīng)用

設(shè)計/檢驗(yàn)電信和數(shù)據(jù)通信器件和系統(tǒng)

ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性測試

高性能真正差分 TDR 測量

串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和網(wǎng)絡(luò)分析，包括 S 參數(shù)

高級抖動、噪聲和 BER 分析

通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型