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WITec alpha 300S 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

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顯微鏡

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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國(guó)家高新技術(shù)企業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過(guò)ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,擁有近30項(xiàng)國(guó)家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x,拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見(jiàn)分光光度計(jì),積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫(xiě)和算法編寫(xiě)核心能力,和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平,未來(lái)面向市場(chǎng)。

前臺(tái).jpg

貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號(hào),貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工,陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker,英國(guó)OXFORD,美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。

 

我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專(zhuān)業(yè),更貼心的服務(wù)。

我們的優(yōu)勢(shì)和專(zhuān)注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測(cè)試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

材料分析領(lǐng)域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

 

 

接觸角測(cè)量?jī)x、在線(xiàn)測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn)

WITec alpha 300S 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

WITec alpha 300S*的懸臂式掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

 

alpha 300S一款操作簡(jiǎn)易的掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM),采用*設(shè)備的中空懸臂式近場(chǎng)探針實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的光學(xué)分辨率。alpha 300S系統(tǒng)也具備*的兼容性和擴(kuò)展性,可與共聚焦光學(xué)/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺(tái)儀器上,僅需旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)輪即可實(shí)現(xiàn)不同模式切換。

WITec alpha 300S 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

WITec alpha 300S是一種純近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。

 

該近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED  STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類(lèi)及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動(dòng)進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動(dòng)測(cè)試流程,操作非常簡(jiǎn)便、直觀。

由于近場(chǎng)光學(xué)信號(hào)極其微弱,alpha300 S 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管,并同時(shí)提供檢測(cè)器快速超載保護(hù)。更重要的是,UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容,實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)光譜與成像測(cè)量。

 

關(guān)鍵特性:

  • 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率(橫向約 60 nm)

  •  SNOM 探針技術(shù)

  • 在空氣與液體中均可使用

  • 包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式

  • 非破壞性、無(wú)需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù),基本不需要樣品制備

  • 可升級(jí)到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場(chǎng)拉曼成像

  • 集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上:共聚焦顯微鏡, AFM  SNOM

技術(shù)參數(shù):

1)工作模式:近場(chǎng)顯微鏡,共聚焦顯微鏡,原子力顯微鏡三種工作模式;
2)近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡分辨率:為50nm
3) 
共聚焦拉曼顯微鏡分辨率:200nm
4) 
掃描臺(tái)掃描范圍:100 x 100 x 20 μm
5
)探測(cè)器:光電倍增管(PMT)或雪崩二極管(APD

 



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