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AFM-III型 MicroNano 原子力顯微鏡

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上海卓倫微納米設備有限公司是一家專業(yè)開發(fā)、生產掃描探針顯微鏡的高科技企業(yè)。產品種類齊全,有MicroNano SPM系列的掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM,接觸/非接觸/摩擦力(側向力)/輕敲模式)、磁力顯微鏡(MFM)。以及SPM配套產品:高分辨CCD觀測系統(tǒng)、大范圍掃描器、高精度樣品X-Y移動平臺、光學顯微鏡電控移動平臺、高精度步進馬達/驅動器,和各種SPM探針、標準樣品。此外,我們還承接特殊功能的SPM產品開發(fā)項目。
我們所有型號的產品間都可直接進行功能擴展,軟件功能強大,使用方便,自動化程度高。并享有遠程網控檢測維修,軟件終生免費升級,18個月加長質保期等6大*服務。是性價比相當高的國產SPM儀器。

生產掃描隧道顯微鏡STM、原子力顯微鏡AFM、磁力顯微鏡,SPM配套產品和特殊功能SPM開發(fā)
我們所有型號的產品間都可直接進行功能擴展,軟件功能強大,使用方便,自動化程度高。并享有遠程網控檢測維修,軟件終生免費升級,18個月加長質保期等6大超值服務。是性價比相當高的國產SPM儀器。

簡 介
這款機型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外,主要增加了AFM側向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode),特別適用于檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測, I-V曲線測量, I-Z曲線測量,針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能,劃移掃描,F-Z曲線測量功能。并使用了智能針尖連接技術,使各種工作模式之間的轉換只需替換相應的針尖架,不必替換整個探頭,軟件能夠自動識別當前針尖類型,并自動切換到相應的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據不同的科研要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺,使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產品一樣,這款機型還可以根據用戶需要,選購相應的功能模塊,將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技 術 指 標
¨掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾(脈沖)
AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
¨樣品尺寸:≤Φ10mm
¨樣品厚度:≤5mm
¨掃描范圍:標準配置6μm×6μm
¨分辨率:STM(X-Y向0.1nm;Z向0.01nm)
接觸模式AFM(X-Y向0.2nm;Z向0.03nm)
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm,z方向0.1nm)
¨XYZ控制:雙12-bit D/A(相當于20位精度)
¨數據采樣:雙12-bit A/D (相當于20位精度)
¨zui大掃描速率:20000 P/S
¨掃描角度:0~360°
¨圖像采樣點:256×256 / 512×512
¨馬達控制:線動螺紋+自動馬達,行程〈10mm,精度〈0.1μm
¨計算機接口:標準并行口
¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可 選 配 件 及 功 能 模 塊
¨3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器
¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)
¨高精度樣品X-Y移動平臺
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

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