化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM)>Nano-R2™ PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
Nano-R2™ PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
- 公司名稱 實密科技股份有限公司
- 品牌
- 型號 Nano-R2™
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/7/17 18:10:18
- 訪問次數(shù) 1347
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
原子吸收;微波消解;原子熒光分光光度計;紫外可見分光光度計;PNI原子力顯微鏡;納米操控;工業(yè)用IC編程器;MCN燒錄機;多功能推拉力測試機 推拉力測試機;X-Ray檢測機;晶圓凸塊雷射檢測機;晶圓級植球機;植球機;自動涂布系統(tǒng);錫球;自動IC燒錄系統(tǒng);外觀檢測裝置;電漿鍍膜系統(tǒng);雷射回火系統(tǒng);磁場產(chǎn)生器;晶圓拉晶機;雙面研磨機;雷射及雷射系統(tǒng);奈米雷射加工機;超快雷射共振器;自動液體分注系統(tǒng) 接觸角測試儀 表界面張力測試儀 高溫黏度計 全自動點膠機
技術(shù)參數(shù)
平板式探針掃描器
X-Y掃描:探針掃描( Tip Scan)
范圍:>80um
線性:<1%
Z-Scan:
范圍:>8um
分辨率:<0.1nm
彩色視頻顯微鏡
放大倍數(shù)(19”監(jiān)測器):2000
自動放大/聚焦:4
視野:140um*190um
分辨率:1.5um
自動X-Y臺:
范圍:25.4 x 25.4 mm
步長:<3um
回轉(zhuǎn)速率:2.5mm/sec
掃描模式:
—接觸模式
—側(cè)力模式
—振動模式
—非接觸模式
—原料感模式
—力/距離模式
選配模式:
-電學(xué)模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用獨立的鎖相放大器探測
-導(dǎo)電模式(SHARK):電流測量范圍: fA-mA
-磁力模式
-摩擦力模式
-納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography
-探針加熱模式( SThM, 探針溫度zui高可達(dá)700攝氏度)
-全新納米顆粒粒徑分析軟件
-恒溫恒濕環(huán)境控制箱
—脈沖力模式 (Pulse Force Mode): 此為PNI公司*開發(fā)出來, 針對軟物質(zhì)與黏彈性之測量
主要特點
* 閉環(huán)式掃描器, 定位精準(zhǔn), 誤差小于1nm
* 具有兩種掃描器可選用, *種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器
* Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優(yōu)點. 對于公用實驗室與需要量測大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是*選擇
* 可配置環(huán)境控制箱, 可控制環(huán)境的溫度, 濕度與通氣氛等強大功能
* 可選配電學(xué)模式, 導(dǎo)電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度zui高可達(dá)700攝氏度), 加熱樣品臺, 液體池.
* Nano-Rp是美國太平洋納米科技公司專門為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括:
全新NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像
Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
儀器介紹 |
Nano-R2™是一種多功能的原子力顯微鏡,它可以顯示日常圖象的納米級結(jié)構(gòu)。
因為Nano-R2™本身擁有兩種版本的軟件來獲取圖象:X"Pert™(專家級)軟件和
EZMode™(容易級)軟件,不管是對于新手、偶爾使用的人,還是日常用戶,都
可以使他們得到zui大的滿足。更進(jìn)一步的說,Nano-R2™支持zui普遍使用的原子
力顯微鏡模式,包括接觸,側(cè)力,材料感覺,非接觸和緊密接觸模式。Nano-R2™
原子力顯微鏡的三個主要系統(tǒng)是主機,控制器和Nano-R2™實驗臺。
Nano-R2™原子力顯微鏡使靜態(tài)納米科技得到進(jìn)一步加強。Nano-R2™ AFM為納米技術(shù),
納米科學(xué)和納米觀察應(yīng)用確立了一個新的標(biāo)準(zhǔn),以獲得納米級的更高質(zhì)量的圖象和
材料結(jié)構(gòu)。對于兩個獨立的研究者或是想要共享一臺原子力顯微鏡的研究團隊來說,
Nano-R2™是一個理想的選擇。