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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>天平衡器>分析天平(<0.1mg)> 梅特勒微量分析天平XP205DR

梅特勒微量分析天平XP205DR

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市光衡儀器有限公司
  • 品牌 Mettler Toledo/梅特勒托利多
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2018/4/20 11:37:16
  • 訪問次數(shù) 284

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深圳市光衡儀器有限公司專業(yè)銷售國內(nèi)外電子衡器、光學(xué)儀器、實驗室儀器(電化學(xué)、PH計 )工量具等檢測類儀器設(shè)備。公司自成幾年以來,公司一貫堅持“質(zhì)量*,用戶*,優(yōu)質(zhì)服務(wù),信守合同”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽,優(yōu)質(zhì)的服務(wù),產(chǎn)品全國近三十多個省、市、自治區(qū)。

    銷售專業(yè)銷售衡器品牌:瑞士梅特勒、德國賽多利斯 、瑞士普利賽斯、美國奧豪斯、日本AND、日本新光、日本島津 中國臺灣英展、上海卓精、成都倍賽克、山東水靈砝碼(不銹鋼砝碼)等。

    銷售光學(xué)儀器品牌:梧州奧卡 德國麥克奧迪 舜宇廣州光學(xué)  貴陽新天投影儀、二次元、三次元、光學(xué)計專業(yè)的銷售團隊,雄厚的技術(shù)支持,專業(yè)的維修與優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù), 竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌。

 服務(wù)理念

追求*,持續(xù)改善、不斷創(chuàng)新 回報社會;
光衡致力于尋求市場競爭中的Z佳質(zhì)量管理;
精心提供光學(xué)儀器、衡器及實驗室儀器;
誠心提供優(yōu)質(zhì)高效服務(wù),客戶滿意是我們的追求;

 我們的優(yōu)勢

1、多年從事光學(xué)、衡器行業(yè)的從業(yè)經(jīng)歷;

2、大量的專業(yè)用戶和各種典型案例的經(jīng)驗積累;

3、高素質(zhì)的企業(yè)專業(yè)技術(shù)團隊;

4、貼近光學(xué)、衡器儀器設(shè)備專業(yè)市場,全面了解現(xiàn)有在役設(shè)備的技術(shù)水平、價格情況、使用狀況、*、服務(wù)質(zhì)量等信息;

5、強大的技術(shù)、服務(wù)團隊支持。

 

 

天平,電子天平,秤,稱,電子稱,電子秤,梅特勒,賽多利斯,新光,AND,顯微鏡、投影儀、

梅特勒微量分析天平XP205DR的詳細資料:

梅特勒微量分析天平XP205DR技術(shù)特性:

· 紅外感應(yīng)器(SmartSense),實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作:開關(guān)門、打印、去皮等 

· 彩色智能觸摸屏(SmartScreen),實現(xiàn)安全,便捷的天平操作 

· 網(wǎng)格秤盤(SmartGrid),獲得快速、準(zhǔn)確稱量結(jié)果 

· 水平控制系統(tǒng)(LevelCControl),  在天平偏移水平位置時提供警告提示功能 

· 梅特勒微量分析天平XP205DR易巧稱量組件(ErgoClip),滿足使用不同容器的稱量需求 

· 用戶管理工具(UserManagement),可以獨立設(shè)置操作者的使用權(quán)限 

· MinWeighzui小稱量值功能,提供符合規(guī)范的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務(wù)工程師現(xiàn)場設(shè)置激活)

· 天平校驗功能(BalanceCheck),自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結(jié)果始終準(zhǔn)確 

· ProFACT專業(yè)級全自動校準(zhǔn)技術(shù),溫度漂移和時間設(shè)置觸發(fā)的內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)和全自動線性校準(zhǔn),獲得精確稱量結(jié)果 

· *可拆卸、清洗的防風(fēng)罩設(shè)計,實現(xiàn)快速清潔 

· 高度可調(diào)節(jié)的內(nèi)置防風(fēng)罩,確保精確稱量結(jié)果 

· 梅特勒微量分析天平XP205DR可移動、分離的顯示控制終端,方便天平使用 

· 標(biāo)配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網(wǎng)、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽,方便連接打印機、電腦等外圍設(shè)備

· 顯示屏塑料保護罩,避免散落樣品的腐蝕

· 6種內(nèi)置應(yīng)用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統(tǒng)計功能、公事稱量

· 

梅特勒微量分析天平XP205DR技術(shù)指標(biāo):



產(chǎn)品型號

XP205DR

zui大稱量

220g

精細量程的zui大稱量值

81g

可讀性

0.1mg

精細量程的可讀性

0.01mg

重復(fù)性:正常加載(sd)

0.06mg(200g)

重復(fù)性:微量加載

0.05mg(10g)

重復(fù)性:精細量程微量加載

0.015mg(10g)

線性

0.15mg

四角誤差

0.25mg(100g)

靈敏度漂移

2.5x10-6

靈敏度溫度漂移(10-30°C)

1x10-6/°C

接口更新速率

23/s

天平外型尺寸(W×D×H mm)

263×486.5×322

秤盤尺寸(W×D mm)

76×73



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