E+H超聲波雷達物位計概述
E+H導波雷達物位計[1]也常被稱為導波雷達料位計[2]，是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎的雷達料位計，E+H導波雷達料位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質(zhì)表面時，導波雷達料位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經(jīng)返回到脈沖發(fā)射裝置，E+H導波雷達料位計的發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，回波的極性和振幅取決于上層介質(zhì)與下層介質(zhì)的介電常數(shù)εr。
E+H超聲波雷達物位計的特點
E+H導波雷達物位計測量不受罐體形狀的影響；也不受介電常數(shù)、溫度、壓力與密度的影響；測量長度可以靈活變更，無須標定；測量結(jié)果具有高精度、可重復性、高分辯率；測量范圍可達24米，適用的介質(zhì)溫度范圍-50℃∽+250℃，適用的壓力范圍高達40bar；導波雷達物位計有多種探頭類型和材質(zhì)可供選擇；數(shù)字化顯示和防爆認證可供選擇。
E+H導波雷達物位計可以測量介電常數(shù)大于等于1.4的任何介質(zhì)。
一般用于測量粘度≤500cst而且不容易產(chǎn)生粘附的介質(zhì)。
桿式雷達zui大量程可以達到6米。
對蒸汽和泡沫有很強的抑制能力，測量不受影響。
對于介電常數(shù)比較小的液體物料可以采用雙探桿式測量方式，以保障良好的準確測量。
產(chǎn)品描述
液體液位測量 
優(yōu)點
對變化中的介質(zhì)進行可靠測量
實用性強
內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲器
工廠預標定
直觀的菜單引導式操作，多種語言可選
便于集成到控制或資產(chǎn)管理系統(tǒng)中
精確的測量和過程診斷，便于快速決策
認證: ATEX, IEC Ex, FM, CSA
應用領域
FMP50 - 經(jīng)濟型測量儀表，用于供應和存儲過程以及公用工程.
測量范圍zui大12 m (39 ft)
過程連接采用 3/4"螺紋或適配法蘭
溫度范圍: -20～+80 °C (-4 ～ +176 °F)
壓力范圍: -1 ～6 bar (-14.5～87 psi)
具有下列系統(tǒng)集成通信接口:
- 4 - 20 mA HART模擬接口
- PROFIBUS PA接口
用于物位監(jiān)測時，符合SIL2要求，由TüV進行獨立評估，符合IEC 61508標準
訂購信息
生產(chǎn)周期: 
Endress+Hauser的標準生產(chǎn)周期（從訂單輸入到發(fā)貨）是根據(jù)不同的Levelflex M FMP50規(guī)格來定義的. 
請與您的來確認此生產(chǎn)周期.
發(fā)貨方式: 
Endress+Hauser會將貨物直接發(fā)送到您的收貨地址。如有特殊要求需要緊急處理，請?zhí)崆耙员銋f(xié)商解決.
訂單跟蹤: 
如需查詢訂單執(zhí)行情況，請您的合同簽訂人.
備件訂購: 
備品備件作為一個發(fā)貨期較短的標準產(chǎn)品訂購。特殊加急訂單需要額外收費