CMI900系列 X射線涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 牛津儀器(上海)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CMI900系列
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2017/7/16 22:14:15
- 訪問次數(shù) 1387
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X射線熒光光譜儀;直讀光譜儀;涂鍍層測(cè)厚儀;顯微分析;刻蝕，沉積和生長(zhǎng);低溫恒溫器與超導(dǎo)磁體系統(tǒng);臺(tái)式磁共振(NMR)分析儀和低場(chǎng)磁共振成像(MRI);X光管和相關(guān)產(chǎn)品;低溫泵系統(tǒng)
CMI 900/950型 X-射線膜厚測(cè)量?jī)x
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r(shí)測(cè)定zui多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。
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