CSPM3000系列 多功能掃描探針顯微鏡
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 中科院化學(xué)所本原納米儀器有限公司-C
- 品牌
- 型號 CSPM3000系列
- 產(chǎn)地 中科院化學(xué)所本原納米儀器公司
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問次數(shù) 1464
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該系列掃描探針顯微鏡(SPM)有以下特點(diǎn) :
集成原子力顯微鏡(AFM)、摩擦力顯微鏡(LFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)
原子力顯微鏡具有接觸、輕敲、相移成像等多種工作模式
具有I-V曲線和力曲線等測量分析功能
具有圖形刻蝕模式和矢量掃描模式的納米加工技術(shù)
樣品尺寸增大至直徑4.5cm、厚度2.5cm
操作簡便,只需要更換探針架,即可切換于STM和AFM等模式
全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集
系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)智能識(shí)別和控制
數(shù)字控制反饋回路
16-bit分辨的A/D和D/A,多路同步數(shù)據(jù)采集和實(shí)時(shí)顯示
基于Windows 9X/ME/2000/XP的在線控制軟件和后處理分析軟件
計(jì)算機(jī)操作接口全程在線式幫助及智能提示
掃描圖像BMP/TIFF全兼容文件格式,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存
本底及比例的實(shí)時(shí)調(diào)整
實(shí)時(shí)定點(diǎn)測試功能
可連續(xù)采集、存儲(chǔ)和重現(xiàn)動(dòng)態(tài)過程
方便的鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能,掃描角度連續(xù)可調(diào)
多種樣品傾斜度實(shí)時(shí)校正功能
樣品粒度和粗糙度自動(dòng)分析
按功能模塊劃分的縱向插卡式結(jié)構(gòu),便于日后系統(tǒng)維護(hù)和升級
可附加第二顯示器和光學(xué)顯微輔助系統(tǒng)
技術(shù)參數(shù):
分辨率:
掃描隧道顯微鏡(STM): 橫向 0.13nm 垂直 0.01nm(以石墨定標(biāo))
原子力顯微鏡(AFM): 橫向 0.26nm 垂直 0.1nm(以云母定標(biāo))
樣品尺寸:≤Φ45mm
樣品厚度:≤25mm
掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置1μm×1μm;20μm×20μm;高達(dá)100um X 100um的大范圍掃描器(選件)
圖像采樣點(diǎn):512×512
zui大掃描速率:55000 P/S
進(jìn)樣方式:步進(jìn)馬達(dá)控制自動(dòng)逼近,行程≤30mm,精度≤83nm
掃描控制:雙16-bit D/A(相當(dāng)于26位精度)
數(shù)據(jù)采樣:雙16-bit A/D (相當(dāng)于23位精度)
集成原子力顯微鏡(AFM)、摩擦力顯微鏡(LFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)
原子力顯微鏡具有接觸、輕敲、相移成像等多種工作模式
具有I-V曲線和力曲線等測量分析功能
具有圖形刻蝕模式和矢量掃描模式的納米加工技術(shù)
樣品尺寸增大至直徑4.5cm、厚度2.5cm
操作簡便,只需要更換探針架,即可切換于STM和AFM等模式
全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集
系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)智能識(shí)別和控制
數(shù)字控制反饋回路
16-bit分辨的A/D和D/A,多路同步數(shù)據(jù)采集和實(shí)時(shí)顯示
基于Windows 9X/ME/2000/XP的在線控制軟件和后處理分析軟件
計(jì)算機(jī)操作接口全程在線式幫助及智能提示
掃描圖像BMP/TIFF全兼容文件格式,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存
本底及比例的實(shí)時(shí)調(diào)整
實(shí)時(shí)定點(diǎn)測試功能
可連續(xù)采集、存儲(chǔ)和重現(xiàn)動(dòng)態(tài)過程
方便的鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能,掃描角度連續(xù)可調(diào)
多種樣品傾斜度實(shí)時(shí)校正功能
樣品粒度和粗糙度自動(dòng)分析
按功能模塊劃分的縱向插卡式結(jié)構(gòu),便于日后系統(tǒng)維護(hù)和升級
可附加第二顯示器和光學(xué)顯微輔助系統(tǒng)
技術(shù)參數(shù):
分辨率:
掃描隧道顯微鏡(STM): 橫向 0.13nm 垂直 0.01nm(以石墨定標(biāo))
原子力顯微鏡(AFM): 橫向 0.26nm 垂直 0.1nm(以云母定標(biāo))
樣品尺寸:≤Φ45mm
樣品厚度:≤25mm
掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置1μm×1μm;20μm×20μm;高達(dá)100um X 100um的大范圍掃描器(選件)
圖像采樣點(diǎn):512×512
zui大掃描速率:55000 P/S
進(jìn)樣方式:步進(jìn)馬達(dá)控制自動(dòng)逼近,行程≤30mm,精度≤83nm
掃描控制:雙16-bit D/A(相當(dāng)于26位精度)
數(shù)據(jù)采樣:雙16-bit A/D (相當(dāng)于23位精度)